光衰减也被称为S-W效应。a-Si∶H经过长时间的强光照射或电流通过，薄膜内部会产生缺陷，降低薄膜的性能，称为StaEbler-Wronski效应(D.L.Staebler和C.R.Wronski早期发现。就我个人而言，我认为光伏组件的衰减实际上是硅片性能的衰减。首先，硅片在长期有氧恶劣环境下会发生缓慢的化学反应并被氧化，从而降低性能，这是组件长期衰减的主要原因；在真空成型过程中，硼（空穴）和磷（给体）会与一定比例的硼混合，提高硅片的载流子迁移率，从而提高组件性能。然而，硼作为一种缺乏电子原子，会与氧原子（给体）发生复合反应，降低载流子迁移率，从而降低组件性能，这是组件每年衰减约2%的主要原因。

组件的衰减分为：

1.由于破坏性因素导致组件功率突然衰减，破坏性因素主要是指焊接过程中焊接不良、包装工艺缺胶，或由于组件搬运安装过程中操作不当，甚至使用冰雹，导致组件内部开裂、电池板严重破碎；

2.组件的初始光衰减，即光伏组件的输出功率在使用前几天大幅下降，但后来趋于稳定，一般在2%以下；

3.组件老化衰减，即长期使用中功率下降极慢，年衰减为0.8%，25年衰减不超过20%；日本和德国两家光伏公司的组件已经证实了25年的效率保修。2012年以后，国内光伏组件基本满足要求，西德基本进口光伏组件的设备和材料。

影响光伏电站发电的关键因素是系统效率。系统效率的主要因素包括：灰尘、雨水屏蔽、温度、组件串联不匹配、逆变器功率损失、直流交流部分电缆功率损失、变压器功率损失、跟踪系统精度等。